Cluster-Seminare/Schulungen

25.06.18 - 26.06.2018 - Cluster-Schulung: Anwendertraining zur Wide-Bandgap Systemintegration

Bild des Flyers "Induktivitäten in der Leistungselektronik"

Schulungsleiter:
Prof. Dr. Eckart Hoene, Fraunhofer IZM

Wide-Bandgap (WBG) Halbleiterbauelemente auf Basis von  SiC und GaN haben großes Potenzial,  die Leistungsdichte und Effizienz leistungselektronischer Systeme zu steigern. Wesentliche Herausforderungen liegen dabei in der Beherrschung des schnellen Schaltens und der hohen Leistungsdichte auf Systemebene. Da viele  Leistungselektronikentwickler noch nicht über das erforderliche Know-how verfügen, wurde im Rahmen der Cluster Internationalisierung ein spezielles Anwendertraining konzipiert.

Die 2-tägige Schulung behandelt alle Aspekte der WBG-Systemintegration - von der Auswahl der SiC bzw. GaN-Leistungshalbleiterbauelemente über das Design von WBG-Leistungselektronik bis zu den Herausforderungen durch das schnelle Schalten (parasitäre Effekte, EMV, Filter) und die hohe Leistungsdichte bei hochintegrierten Systemen.

Ein weiteres wichtiges Thema für den Anwender ist das Testen: einerseits der elektrische Test der neuen Leistungshalbleiterbauelemente und andererseits die erweiterten Zuverlässigkeitstests der Leistungsmodule und Systeme

Zielgruppe
Die Schulung wendet sich insbesondere an Ingenieure und Techniker, die sich mit den Besonderheiten der schnell schaltenden Bauelemente aus SiC und GaN und deren effiziente Integration in das Gesamtsystem beschäftigen. Praktische Hinweise für den Anwender stehen im Mittelpunkt der Schulung.

Anmeldeschluss: 18. Juni 2018

Veranstaltung:
Cluster-Schulung

Ort:
Bremen