Cluster-Seminare/Schulungen

22.11.17 - 23.11.2017 - Cluster-Schulung: Messen, Prüfen und Charakterisieren von Leistungshalbleiter-Bauelementen - Vertiefung

Dynamische und applikationsnahe Messungen

Bild zum Flyer Leistungshalbleiter

Schulungsleiter:
Prof. Ingmar Kallfass, Universität Stuttgart

Die dynamischen Eigenschaften von schnell schaltenden Leistungshalbleiter-Bauelementen können messtechnisch nur dann richtig erfasst werden, wenn die Leistungshalb-leiter in Applikationen, d.h. in realen Schaltungen eingebaut sind.
Aufbauend auf der Grundlagenschulung sollen im Rahmen dieser Veranstaltung wesentliche, relevante Messverfahren dargestellt werden, die zur Prüfung und Charakterisierung von Leistungshalbleiter-Bauelementen in Applikationen eingesetzt werden können.
Die Vorträge können optional durch den Besuch eines  Praxiskurses im Bosch Innolab ergänzt werden, in dem in Kleingruppen bestimmte messtechnische Versuche unter Anleitung selbst durchgeführt werden können.

Zielsetzung
:: Kenntnis relevanter physikalischer Größen zur Prüfung bzw. Charakterisierung von schnell schaltenden Leistungshalbleiter -Bauelementen
:: Kompetenz, die entsprechenden Angaben in den Normen bzw. Datenblättern zu interpretieren
:: Kenntnis von möglichen Messverfahren, um schnell schaltenden Bauelemente in Applikationen prüfen und charakterisieren zu können
:: Kenntnis der Vor- und Nachteile bzw. Grenzen der verschiedenen Messverfahren
:: Kompetenz zur Konzeption und Durchführung von Messungen

Zielgruppe
Die Schulung wendet sich insbesondere an:
:: Entwickler von leistungselektronischen Baugruppen,
die schnell schaltende Leistungshalbleiter-Bauelemente einsetzen, spezifizieren, auswählen
:: Mitarbeiter im Bereich Qualitätssicherung und Qualitätsmanagement
:: Hersteller von Leistungshalbleiter-Bauelementen
:: Hochschulen und Forschungseinrichtungen

Anmeldeschluss: 16. November 2017

Veranstaltung:
Cluster-Schulung

Ort:
Reutlingen