Cluster-Seminare/Schulungen

21.10.14 - 22.10.2014 - Cluster-Praxiskurs: Statistische Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse in der Leistungselektronik

Schulungsleiter:
Aaron Hutzler (Fraunhofer IISB)

Für die Entwicklung leistungselektronischer Systeme sind Lebensdauer- und Zuverlässigkeitstests von hoher Bedeutung. Die statistische Auswertung bzw. die Testplanung spielt dabei eine zentrale Rolle, um die Prüflingsanzahl bzw. die Kosten zu minimieren, aber auch eine möglichst belastbare Ergebnisse zu generieren.

Wie viele Bauteile müssen geprüft werden und wie hoch ist die Aussagekraft wenn beispielsweise nur 1000 Stunden ohne Ausfall getestet wurde? Diese und weitere Fragestellungen beantworten Ihnen die Dozenten im Praxiskurs anhand realer Daten. Durch „Learning-by-Doing“ werden Sie an Lebensdaueranalysen und Zuverlässigkeitstests herangeführt.

Mit Lastwechselprüfergebnissen wird Ihnen das Vorgehen aufgezeigt und anschließend diskutiert. Das Seminar besteht aus wechselnden Theorie- und Praxisblöcken, in denen Sie das neue Wissen direkt anwenden werden. Nach dem Kurs sind Sie in der Lage eigene Testpläne zu erstellen, Lebensdauertests auszuwerten und Lebensdauerprognosen aufstellen zu können.

Anmeldeschluss: 14. Oktober 2014

Veranstaltung:
Cluster-Praxiskurs

Ort:
Nürnberg

Zusammenfassung: