Nordbayern

15.12.14 - Cluster-Vortragsreihe des Fraunhofer IISB: Moderne Testverfahren

Gemeinsame Vortragsreihe des Bayerischen Clusters Leistungselektronik und des „Fraunhofer-Innovationsclusters Elektronik für nachhaltige Energienutzung“

Themenschwerpunkt
Moderne Testverfahren

Schließen der Testlücke – Ganzheitliches Testen von Antriebsinvertern mittels Power-HiL
Horst Hammerer, SET Power Systems GmbH, Wangen

Mittels einem Power-HiL Aufbau (einer sog. virtuellen E-Maschine) können heute Antriebsumrichter unter voller Leistung im Labor getestet werden, wobei das neue Verfahren hinsichtlich Testtiefe und Reproduzierbarkeit gegenüber einem konventionellen Ansatz mit einem Maschinensatz deutlich überlegen ist.

Echtzeitsimulation als Entwicklungswerkzeug – Einführung und Fallbeispiel
Felix Adler, AixControl GmbH, Aachen

Zunehmend komplexere Software-Strukturen heutiger leistungselektronischer Anlagen erfordern erhöhten Test-aufwand. Hardware-in-the-loop-Werkzeuge erlauben automatisiertes und kontinuierliches Testen unabhängig von der Hardware und somit bereits während der Entwicklung. Zusätzlich können besondere Arbeitspunkte wie z.B. Grenzfälle bereits früh und zerstörungsfrei in
das Testen einbezogen werden und so die Testabdeckung erweitern.

Teilnahme kostenlos, keine Anmeldung erforderlich!

Ab 18:45 Uhr Diskussion bei Imbiss und Getränken.

Veranstalter:
Fraunhofer IISB und Cluster Leistungselektronik

Uhrzeit:
17:15 Uhr

Ort:
Hans-Georg-Waeber-Saal, Schottkystraße 10, Erlangen