Nordbayern

18.12.17 - Cluster-Vortragsreihe des Fraunhofer IISB: Zuverlässigkeit leistungselektronischer Systeme

Gemeinsame Vortragsreihe des Bayerischen Clusters Leistungselektronik und des „Fraunhofer-Innovationsclusters Elektronik für nachhaltige Energienutzung“


Zuverlässigkeitsbewertung thermomechanischer Fehlerbilder in der Leistungselektronik für Elektrofahrzeuge
Thomas Rupp, Robert Bosch GmbH

Die Auslegung der Zuverlässigkeit von leistungselektronischen Steuergeräten erfordert eine effiziente Modellierung des transienten thermomechanischen Verhaltens unter feldnahen Bedingungen und eine genaue Kenntnis der kritischen Fehlermechanismen. So können auch aktive Lasten berücksichtigt werden, die im realen Betrieb von Elektrofahrzeugen auftreten. Am Beispiel von typischen Komponenten wie Leistungsmodulen und organischen Leiterplatten wird das Vorgehen zur Zuverlässigkeitsbewertung in komplexen Steuergeräten dargestellt.

High Cycle Fatigue in leistungselektronischen Systemen
Thomas Schriefer, Universität Erlangen-Nürnberg

Die hochzyklische Anregung von Strukturbauteilen über einen langen Zeithorizont stellt eine typische Ausfallursache von mechatronischen Systemen dar und äußert sich auf Material-ebene in Ermüdungsrissen. Unter Berücksichtigung aktueller Normgrundlagen wird eine Einführung in die Berechnungsarithmetik und Prüfsystematik schwingfähiger Systeme gegeben. Zur Simulation des Schadensmodus werden numerische und experimentelle Analyseverfahren vorgestellt und anhand von aktuellen Projekten aus der leistungselektronischen Forschungslandschaft illustriert.

 

Teilnahme kostenlos, keine Anmeldung erforderlich!

Ab 18:45 Uhr Diskussion bei Imbiss und Getränken.

Veranstalter:
Fraunhofer IISB und Cluster Leistungselektronik

Uhrzeit:
17:15

Ort:
Hans-Georg-Waeber-Saal, Schottkystraße 10, Erlangen