Nordbayern

18.12.17 - Cluster-Vortragsreihe des Fraunhofer IISB: Zuverlässigkeit leistungselektronischer Systeme

Gemeinsame Vortragsreihe des Bayerischen Clusters Leistungselektronik und des „Fraunhofer-Innovationsclusters Elektronik für nachhaltige Energienutzung“ sowie des Energie Campus Nürnberg

Berührungslose hochausgelöste flächenhafte Schwingungsmessung für die Designoptimierung von Leistungselektronik
Marco Fritzsche, Polytec GmbH

Die Charakterisierung des dynamischen Schwingverhaltens ist die Grundlage der mechanischen Zuverlässigkeitsbewertung von in Fahrzeugen eingesetzten elektronischen Systemen. Der Vortrag beschreibt anhand der kontaktlosen Messung eines Laser-Doppler-Vibrometers die Möglichkeiten der Interferometrie zur optischen Visualisierung von mechanischen Schwingungen und deren Frequenzgängen bzw. Übertragungsfunktionen.

High Cycle Fatigue in leistungselektronischen Systemen
Thomas Schriefer, Universität Erlangen-Nürnberg

Die hochzyklische Anregung von Strukturbauteilen über einen langen Zeithorizont stellt eine typische Ausfallursache von mechatronischen Systemen dar und äußert sich auf Material-ebene in Ermüdungsrissen. Unter Berücksichtigung aktueller Normgrundlagen wird eine Einführung in die Berechnungsa-rithmetik und Prüfsystematik schwingfähiger Systeme gegeben. Zur Simulation des Schadensmodus werden numerische und experimentelle Analyseverfahren vorgestellt und anhand von aktuellen Projekten aus der leistungselektronischen For-schungslandschaft illustriert.

Teilnahme kostenlos, keine Anmeldung erforderlich!

Ab 18:45 Uhr Diskussion bei Imbiss und Getränken.

Veranstalter:
Fraunhofer IISB und Cluster Leistungselektronik

Uhrzeit:
17:15

Ort:
Hans-Georg-Waeber-Saal, Schottkystraße 10, Erlangen