Schulung
Datum: 01/12/2021 - 02/12/2021
Ort: Nürnberg, Deutschland
Fachliche Leitung:
Dr. Aaron Hutzler, Bond Pulse - Reliable electronics driven by innovation
Björn Noreik, BNB Qualitätsstatistik und Training
Organisation:
Krista Schmidt
+49 911 81 02 88 - 16
krista.schmidt(at)ecpe.org
Interner Bereich
für Cluster-Akteure
Login nicht notwendig für Online-
Anmeldung zu Veranstaltungen!
Anmeldeschluss: 24. November 2021
Inhalt
In dieser Schulung erfahren Sie die Grundlagen der modernen Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse für elektronische Systeme – sowohl für den Systementwurf als auch für die Überprüfung durch Simulation und Test. Während der Schulung führen Sie mit den anderen Teilnehmern gemeinsam Tests durch und werten diese aus. So lernen Sie die statistischen Verfahren und gängige Teststrategien kennen und können diese aktiv erleben, hinterfragen und anwenden. Die Vorgehensweise basiert auf dem beabsichtigten Beanspruchungsprofil, der Testplanung, Fehlerphysik sowie dessen statistischer Beschreibung und Modellierung.
Für die Schulung benötigen die Teilnehmer keinen Computer. Die Auswertungen der Experimentdaten erfolgt live durch die Referenten mit der Software Minitab®. Wichtige statistische Grundlagen und Ergebnisse werden so anschaulich und leichter zu interpretieren.
Selbstverständlich werden die Mess- und Analyseergebnisse im Anschluss digital zur Verfügung gestellt.
Schulung
Datum: 01/12/2021 - 02/12/2021
Ort: Nürnberg, Deutschland
Fachliche Leitung:
Dr. Aaron Hutzler, Bond Pulse - Reliable electronics driven by innovation
Björn Noreik, BNB Qualitätsstatistik und Training
Organisation:
Krista Schmidt
+49 911 81 02 88 - 16
krista.schmidt(at)ecpe.org
Cluster Leistungselektronik im ECPE e.V.
Landgrabenstraße 94
D-90443 Nürnberg, Deutschland
Telefon: +49 (0)911 81 02 88-0
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